Notre actualité

InS s’équipe d’un microscope dernière génération pour rester à la pointe de la recherche

09/10/2017

Le microscope Electronique à Balayage (MEB en français ou SEM en anglais pour Scanning Electron Microscope) est un instrument scientifique utilisant diverses interactions électrons-matière pour réaliser des images en topographie ou en composition de la surface d’objets, avec une très haute résolution de 3 nm.

 

Des caractéristiques offrant de nouvelles possibilités

 

  • C’est un microscope basse pression (environnemental) qui permet d’observer en haute résolution la topographie des matériaux, même non conducteurs (oxydes, polymères, composites,…), sans préparation d’échantillon préalable
  • Il est doté d’un porte échantillon « Freeze Drying » qui préserve les structures les plus fragiles, notamment les échantillons organiques (faune, flore, graisses,…) #voir images#
  • Grâce à une méthode photogrammétrique, le logiciel offre la possibilité de recréer des images 3D des surfaces analysées (en complément de notre profilomètre 3D).
  • Son détecteur d’électron rétrodiffusés (BSE) d’ajouter instantanément un contraste chimique à la morphologie de surface afin de juger de l’homogénéité d’un échantillon.
  • Il dispose d’une chambre volumineuse, permettant d’analyser des échantillons jusqu’à 75mm de hauteur et 200mm de diamètre
  • Son détecteur EDS permet, en un temps record :
    • D’identifier et quantifier les éléments présents
    • De réaliser, de manière automatisée, une cartographie élémentaire de ces éléments

 

Quels types d’application ?

  • Identification de couches de transfert, pollution de surface
  • Identification de matériaux
  • Observation de défauts (ruptures, corrosion, aspect,…)
  • Contrôle qualité

 

Quels domaines sont concernés ?

Les expertises réalisées grâce à un MEB equipé d’un EDX sont nombreuses, et peuvent concerner des domaines divers :

  • Aéronautique
  • Verrerie
  • Biologie
  • Matériaux
  • Fonderie / Métallurgie
  • Textile
  • Papeterie