InS s’équipe d’un microscope dernière génération pour rester à la pointe de la recherche
09/10/2017
Le microscope Electronique à Balayage (MEB en français ou SEM en anglais pour Scanning Electron Microscope) est un instrument scientifique utilisant diverses interactions électrons-matière pour réaliser des images en topographie ou en composition de la surface d’objets, avec une très haute résolution de 3 nm.
Des caractéristiques offrant de nouvelles possibilités
- C’est un microscope basse pression (environnemental) qui permet d’observer en haute résolution la topographie des matériaux, même non conducteurs (oxydes, polymères, composites,…), sans préparation d’échantillon préalable
- Il est doté d’un porte échantillon « Freeze Drying » qui préserve les structures les plus fragiles, notamment les échantillons organiques (faune, flore, graisses,…) #voir images#
- Grâce à une méthode photogrammétrique, le logiciel offre la possibilité de recréer des images 3D des surfaces analysées (en complément de notre profilomètre 3D).
- Son détecteur d’électron rétrodiffusés (BSE) d’ajouter instantanément un contraste chimique à la morphologie de surface afin de juger de l’homogénéité d’un échantillon.
- Il dispose d’une chambre volumineuse, permettant d’analyser des échantillons jusqu’à 75mm de hauteur et 200mm de diamètre
- Son détecteur EDS permet, en un temps record :
- D’identifier et quantifier les éléments présents
- De réaliser, de manière automatisée, une cartographie élémentaire de ces éléments
Quels types d’application ?
- Identification de couches de transfert, pollution de surface
- Identification de matériaux
- Observation de défauts (ruptures, corrosion, aspect,…)
- Contrôle qualité
Quels domaines sont concernés ?
Les expertises réalisées grâce à un MEB equipé d’un EDX sont nombreuses, et peuvent concerner des domaines divers :
- Aéronautique
- Verrerie
- Biologie
- Matériaux
- Fonderie / Métallurgie
- Textile
- Papeterie
- …
